Partikelmessung auf Oberflächen und in Luft

Überblick / Applikationen
Die Reinheit von Produkten definiert sich nicht nur durch die Sauberkeit der Luft, sondern vielmehr über die Reinheit der Produktoberflächen. Die Partikelmessung auf Oberflächen kann in Verbindung mit konventionellen optischen Partikelzählern für Luft nur durch Ablösung der Teilchen von den Oberflächen realisiert werden.

CCI modifiziert am Markt bewährte Partikelzähler (Lighthouse, TSI, Klotz Abakus) und erweitert deren Einsatzspektrum um das zusätzliche Feature Partikelzählung auf Oberflächen. Auch nach einer entsprechenden Modifizierung bleibt die ursprüngliche Gerätefunktion erhalten und damit uneingeschränkt nutzbar. Der Partikelzähler eignet sich fortan sowohl für die Messung von luftgetragenen Partikeln als auch von Oberflächenpartikeln!

Ein breites Sortiment an Probenahmesonden steht zur Verfügung: Die Sondentypen VFP30 und VFP50 sind Probenahmesonden, die in Durchmessern von 30 bis 50 mm mit und ohne O-Ringabdichtung zur Oberfläche erhältlich sind.

Um die Ablöserate der Partikel von der Oberfläche zu erhöhen bzw. auch Messungen in Sacklöchern durchzuführen, wurde die VSP-Sonde entwickelt. Diese Sonde wird beim Messen auf die Oberfläche angepresst. Gefilterte Druckluft strömt auf die Oberfläche und löst Partikel ab. Da diese Sonde hermetisch zur Oberfläche abschließt, kann hiermit auch außerhalb von Reinraumbedingungen gemessen werden.
Durch die Verwendung von akkubetriebenen Partikelzählern und die Verwendung von Druckluft als Ablösemedium wurde von CCI die PCU (Partikelzähler Control Unit) entwickelt. Diese steuert den Messvorgang, wobei die Probenahmezeit üblicherweise zwischen 5 bis 10 Sekunden liegt.